【岗位职责】
完成芯片的scan mbist，以及boundary scan 的物理实现，包含对应电路的STA sign off等。
1. 和前端设计人员协同合作，定义清晰的芯片可测性结构：时钟，逻辑层次，PAD-mux等
2. 制定测试计划，完成扫描链，MBIST，JTAG插入。并完成ATPG和测试向量后仿真。
3. 熟悉DC/AC测试机理，有OCC的使用经验，同时会使用层次化的DFT设计方法
4. 熟悉综合器，可以熟练的使用DC工具
5. 有STA技术基础，可以针对DFT的设计，进行时序约束的定义的维护
6. 熟悉测试向量的生成和调测。支持ATE的CP/FT测试
7. 熟悉外设有以太网口并口，USB+spi+s2c, ddr3和ddr4 经验。
【任职要求】
1、2年以上DFT设计和验证，测试模式开发经验；
2、具备DFT必要的关键知识及解决问题的能力；
3、熟练掌握主流DFT设计工具Tessent及Defect诊断流程；
4、良好的数字Soc/ASIC设计知识，具备一定的STA，验证和RTL Coding能力；
5、熟练使用Verilog， System Verilog等硬件设计语言；
6、具备熟练的TCL,PERL脚本能力；